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AN4187_在STM32系列中使用CRC外设
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AN4187_在STM32系列中使用CRC外设 | 意法半导体STM | STM32/STM8微控制器 | MCU单片机
AN4187_在STM32系列中使用CRC外设
循环冗余校验（CRC）技术用于检测数字数据中的错误，但在检测到错误时不进行校正。该技术旨在检查数据传输或数据存储的完整性。在确保数据可靠性方面，CRC技术功能强大且易于实施。该技术的诊断覆盖范围可满足基本安全标准要求。这就是认证符合IEC 60335-1 和 IEC 607030-1 标准（称为“B 级”要求）的ST固件时，在Flash内容完整性自检检查中使用CRC功能的原因。
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